Исследователи разработали новый метод получения цветных рентгеновских изображений

Ученые из Геттингенского университета разработали новый подход к созданию цветных рентгеновских изображений. Ранее единственным способом определения химического состава и расположения компонентов в образце с помощью рентгенофлуоресцентного анализа было фокусирование рентгеновских лучей на весь образец и его сканирование, что требовало больших затрат времени и средств. Новый метод позволяет создать изображение большой площади всего за одну экспозицию, устраняя необходимость в фокусировке и сканировании.


В отличие от видимого света, для «невидимого» излучения, такого как рентгеновское, нейтронное или гамма-излучение, не существует сравнительно мощных линз. Однако эти виды излучения необходимы, например, в ядерной медицине и радиологии, а также при промышленных испытаниях и анализе материалов.

Использование рентгеновской флуоресценции включает анализ состава химических веществ в картинах и культурных артефактах для определения подлинности, происхождения или технологии производства, а также анализ образцов почвы или растений для защиты окружающей среды. Качество и чистоту полупроводниковых компонентов и компьютерных микросхем также можно проверить с помощью рентгенофлуоресцентного анализа.

Рентгеновская флуоресценция (XRF) обеспечивает уникальный элементный механизм контраста, который может расширить возможности рентгеновской визуализации в химическом измерении. Благодаря картографированию пространственного распределения и концентрации химических элементов рентгеновская спектромикроскопия стала незаменимым инструментом.
— разработчики проекта.

Для своего метода ученые использовали цветную рентгеновскую камеру, разработанную PNSensor в Мюнхене, и новую систему визуализации, которая, по существу, состоит из специально структурированной позолоченной пластины между объектом и детектором.

Картина интенсивности, измеренная в детекторе, предоставляет информацию о распределении флуоресцирующих атомов в образце, которую затем можно расшифровать с помощью компьютерного алгоритма. Этот подход означает, что пластина может быть расположена очень близко к объекту или детектору, в отличие от использования рентгеновской линзы, что делает метод более практичным.


— доктор Якоб Зольтау, научный сотрудник Института рентгеновской физики Университета Нью-Йорка. Геттинген.



Компания XRNanotech специализируется на наноструктурах и была основана доктором Флорианом Дёрингом, защитившим диссертацию. в Геттингенском университете.


—профессор Тим Салдитт, руководитель исследовательской группы.